雲科大智慧辨識中心發表5項自動光學瑕疵檢測新技術

週五, 30 十月 2020 13:48

雲科大智慧辨識中心發表5項自動光學瑕疵檢測新技術

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雲科大智慧辨識中心發表5項自動光學瑕疵檢測新技術

　　自動光學檢測(AOI)技術隨著產業需求興起，智慧辨識技術不斷地推陳出新，試圖透過電腦視覺高效能檢測，找到更細微、更難檢出的瑕疵或目標物，以提升產品及服務品質。國立雲林科技大學智慧辨識產業服務研究中心(IRIS中心)的「AOI檢測技術專家群」，過去已有多項研發成果實際導入產業受到產業界矚目。

雲科大IRIS中心主任張傳育教授帶領AOI研究團隊，在2020第二十屆全國AOI論壇與展覽中發表5項自動化光學檢測技術，並受邀專題演講。張主任提到，IRIS研究團隊挑戰的目標是「不管什麼材質都能檢測」。今年成功針對產業提出的「軟質」和「硬質」材料檢測上都研發出完美的檢測技術，發表成員包含張傳育教授、林建州教授、陳士煜教授、及吳先晃教授，推出「記憶體模組電子元件焊點瑕疵檢測」、「融合深度影像及彩色影像校正方法於輪胎瑕疵檢測」、「基於點雲資訊之隧道瑕疵檢測」、「高光譜訊號之皮革瑕疵檢測」、及「薄膜電阻基板堆疊自動計數」等5項技術，在此次發表會上備受矚目。

「記憶體模組電子元件焊點瑕疵檢測」瑕疵檢出率高達99.5%，每個元件的檢測時間只需0.05秒；「融合深度影像及彩色影像校正方法於輪胎瑕疵檢測」是以三維影像強化並融合二維影像，找出輪胎表面的深度變化及瑕疵；「基於點雲資訊之隧道瑕疵檢測」則是採用創新式切片分析，精準標示出隧道滲水區域面積，誤判率低於10%。而「高光譜訊號之皮革瑕疵檢測」則不同於傳統RGB高光譜影像，是藉由不同的光譜訊號差異與使用開發的高光譜演算法來尋找不同的皮革瑕疵點，檢測精準度更高。最後「薄膜電阻基板堆疊自動計數」系統，是利用多相機進行取像縫合，能在20cm的堆疊基板高度下，達到近100%的計數正確率。

　　IRIS中心所開發的AOI技術能有效改善以往生產線上作業員因經驗不足或疲勞造成的誤判，透過電腦視覺的高精準度，能針對產品、物件的表面進行掃描檢測，像是硬質的鋼材、電路板、輪胎、薄膜電阻基板；軟質的皮革或布料，甚至是農產品都可以進行精密的檢測，應用領域非常廣，能有效解決產業的痛點，提高我國產業的國際競爭力。

雲科大智慧辨識中心團隊合影